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단일 이벤트 효과와 반도체 소프트 오류의 평가
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단일 이벤트 효과와 반도체 소프트 오류의 평가

저자
정성수 저
출판사
다윈의 서재
출판일
2025-09-30
등록일
2026-02-09
파일포맷
PDF
파일크기
20MB
공급사
YES24
지원기기
PC PHONE TABLET 웹뷰어 프로그램 수동설치 뷰어프로그램 설치 안내
현황
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책소개

반도체의 신뢰성을 위협하는 가장 중요한 요인 중 하나, 단일 이벤트 효과(SEE, Single Event Effect).
본서는 소프트 오류(Soft Error)의 발생 원인부터 방사선 환경, 반도체와 입자의 상호작용, 평가 및 분석 방법, 그리고 국제 표준에 따른 최신 시험 기법까지 전 과정을 체계적으로 정리한 국내 최초의 전문 교재입니다. 항공·우주, 군수, 자율주행, 인공지능 데이터 센터 등 고신뢰성이 필수적인 산업 분야에서 반드시 참고해야 할 실전 가이드로, 연구자와 엔지니어뿐 아니라 기술 관리·마케팅 종사자에게도 필독서가 될 것입니다.

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